高通平台G-sensor校准流程
最新推荐文章于 2024-07-14 16:14:14 发布
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本文详细介绍了高通平台G-sensor的校准流程，从app层的runSensorTest开始，深入到hal层的libSensor1接口，再到adsp驱动层的校准模式与bias计算，最后解析了校准数据如何反馈并应用到app层。
高通平台G-sensor校准流程
1.app层 runSensorTest
jni接口
2.hal层的接口
jni中调用libSensor1的接口sensor1_open
3.adsp驱动中的流程
调用到对应驱动文件中的run_test，以bma2x2为例：
run_test 函数中由多种校准模式其中SNS_DDF_TEST_OEM模式会计算当前机器的数据bias，并存储下来。
除了SNS_DDF_TEST_OEM还有SNS_DDF_TEST_SELF_SW和SNS_DDF_TEST_SELF_HW等。
sns_dd_inertial_test_handle_timer完成3个任务
1.sns_dd_inertial_test_get_data 获取校准数据
2.cal_update，更新bias以及motion_state
3.根据state->algo_output.motion_state判断校准是否成功。
这里说明一下为什么会z轴数据+9.8，因为adsp中默认校准时水平放置在桌面，X,Y轴数据为0，Z轴的数据为-9.8，所以这边加上9.8之后，就变成X,Y,Z三个轴都是0，0，0了。
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回到sns_dd_inertial_test_handle_timer函数，通过cal_update获取到对应的bias值后，判断是否超出门限值，bias值是否可用。
校准成功调用 sns_dd_inertial_test_complete(state, SNS_DD_ITEST_SUCCESS);
校准数据返回到bma2x2驱动文件中根据返回值err不通不同，走不同的路径。
(status == SNS_DDF_SUCCESS) || (err == SNS_DD_ITEST_ZERO_VARIANCE)都判定校准成功，上报SNS_DDF_EVENT_BIAS_READY event。
将对应的bias值存放到指定sns.reg路径下
SNS_REG_ITEM_ACC_X_BIAS_V02
SNS_REG_ITEM_ACC_Y_BIAS_V02
SNS_REG_ITEM_ACC_Z_BIAS_V02
sns.reg中的校准后校准参数存放位置。
sns_dd_acc_bma2x2_get_data中上报数据时+对应的bias，从而使得上报数据变成校准后的数据上报给app。